不断追求创新,攻克测试开发难题:华虹nec辛吉升-am8亚美

不断追求创新,攻克测试开发难题:华虹nec辛吉升
发布时间: 2013-03-12 13:47  作者: 本站编辑

      辛吉升,现任华虹nec测试部科长。他在工作上不断追求创新,和身边同事一起,一次次攻克测试系统开发难题。

      t2000 测试系统是一个完全开放的业界最先进的测试系统之一,该平台上的测试程序很复杂、开发起来很有挑战性。虽然之前已经成功的实现了128同测的能力,但测试程序正确性的验证问题一直困扰着他们。

      此外华虹nec目前最先进的.13工艺平台的测试已经脱离了传统的测试概念,已经不仅仅只是芯片功能是否正误的判断,而且还加入了芯片特性的trim以及客户cos码写入的功能,所以测试已经成为process的一个重要的组成部分。把每个芯片的特性参数调到最佳状态,和cos数据一起记入芯片,不能出任何差错,否则意味着芯片的制造将前功尽弃。

      为了攻克这两个技术难题,他和同事们一起,大量翻阅相关材料,不断试验,最终成功开发了一套相对完善的测试验证工具。该套验证工具包括11个专用程序,通过比较完善的测试程序检查方法,保证了测试的正确性。

      测试时间的缩短,不仅仅是测试产能上的迫切需求,同时也代表着新一代测试开发架构技术上的不断创新。为此,他和同事们一起,不断完善测试算法,从最初通用trim算法的研发到后来对某ip的特性而采用专用算法,从最初trim项目的dac值的逐级扫描法,到后来的二分法的研究和推广,每一次改进,无不包含着测试产能提高的喜悦以及量产推广的小心翼翼。

      作为支部的一名委员,他积极参与支部工作的日常活动,协助推进党内主题活动的开展。2011年"ef130 1t工艺平台量产化推进 "项目活动获得公司二等奖。2012年,通过他的努力,动员参与人数包括一线的党员群众在内达到了100人以上,新立项达到7项之多,并且每个项目都是紧密结合公司的重点研发进行展开,极大的激发了主题活动的生命力和创造力。

网站地图